电法探测深度
电法探测深度
电法探测深度（depth of investigation）是指电阻率法的探测深度。它取决于如下条件：①被探测地质体本身的因素，如大小、形状、埋深及与围岩的电阻率差别；②供电电极距（AB）的大小；③观测精度；④地形和不均匀体的干扰；⑤外来电场的干扰。如不考虑后面两个因素，其探测深度主要取决于前三个因素。计算表明，在AB/2深度以下存在无限延展、电阻率义为无穷大的岩层时，它对地面电场的畸变不超过观测误差。所以，AB/2可称为影响深度。实际上，如水平岩层不太厚，且与上下岩层的电阻率差异不大时，需要比AB/2浅很多才能被发现。电阻率法的实际探测深度通常在AB/10～AB/4之间，一般可按AB/6估算。但是，当矿体较小、埋藏较深时，即使无限增加极距也无法探测到。如对良导球体，当球心埋藏深度超过其半径的3～4倍时，无论怎样选择极距也难以探到。对良导水平柱体，当柱心埋藏深度超过其半径的5～6倍时，也难以探到。所以,电阻率法的探测深度，主要取决于被探测地质体本身的各种因素。