核能级寿命测量
核能级寿命测量
简介
原子核被激发后，可以在较高的能级上停留一段时间，此时间称为该能级的寿命。实验上测到的寿命是激发核（处在激发态的核）能级的平均寿命, 用τ表示。激发核是不稳定核,往往通过γ辐射向低能级或基态跃迁。跃迁几率λ＝1/τ（见γ跃迁）。实验上测定τ之后,即可同采用某种核模型波函数计算的λ 比较，从而达到检验理论的目的。
方法
测量τ 的方法有间接和直接测量两类。间接测量方法如库仑激发、γ共振、电子非弹性散射、同K系X射线寿命的比较等。直接测量法有延迟符合法、多普勒效应法、阻塞效应法等。
延迟符合法
级联γ射线的中间态有一定的寿命，可以用测量这两条γ射线之间的延迟符合时间谱，去确定中间态的寿命；或者是利用加速器的脉冲束流，测量在脉冲束间隔内的延迟时间谱，以求出能级的平均寿命。这两种方法测量的时间范围一般在10-3～10-10s（符合技术见符合和反符合系统）。
多普勒效应法
如果核反应A(a,b)B*在薄靶中进行，则生成的激发核B*按动量守恒定律将以速度v(0)在真空中反冲。B*在反冲飞行中放出的γ射线能量E γ和在停止时放出的γ射线能量E=Icosa／r之间有多普勒移动，而 客运成本=客运支出总额/客运人公里总数,货运成本=货运支出总额/货运计费吨公里总数,(1)
式中с是真空中的光速，θ是探测方向和B*反冲方向之间的夹角。
阻塞效应法
晶体点阵上的原子核发生反应形成的复合核放出带电粒子退激发。当B*的反冲速度垂直分量v寑满足v寑τ﹤α时(α为屏蔽半径),放出的粒子被阻塞。即角分布有深的阻塞谷P0。若v寑τ≥α,则谷变浅为P1。根据谷中粒子数的变化，可以推断出复合核态的寿命。可测寿命范围约在10-14～10-18S。