“形貌”查询结果


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超声定位与形貌综合实验仪

产品名称超声定位与形貌综合实验仪产品资料1、观察回波的形状和特征;测量水中声速,测量水中物体的距离;2、了解脉冲回波超声测量的原理;掌握实验仪器的使用方法;3、应用脉冲回波法确定物体的方位;应用脉冲回波法来研究物体的运动状态;4、应用脉冲回波法对给定目标物体进行扫描,研究物体的形貌成像。技术特点1、脉冲回波法测量,接近于实用的超声检测系统;2、采用军品级超声换能器,收发一体式设计;典型的2.5MH 详情>>

超声 定位 形貌 综合 实验仪 实验 验仪


断口形貌

图书信息内容简介作者简介目录图书信息书名:断口形貌学出版社:科学出版社;第1版(2009年10月1日)外文书名:fractographyobservingmeasuringandinterpretingfracturesurfacetopography丛书名:材料腐蚀丛书精装:367页正文语种:简体中文开本:16isbn:9787030257741条形码:9787030257741商品尺寸:24. 详情>>

断口 形貌


断口形貌学:观察、测量和分析断口表面形貌的科学

基本信息内容简介编辑推荐作者简介目录基本信息出版社:科学出版社;第1版(2009年10月1日)外文书名:FractographyObservingMeasuringandInterpretingFractureSurfaceTopography丛书名:材料腐蚀丛书精装:367页正文语种:简体中文开本:16ISBN:9787030257741条形码:9787030257741商品尺寸:24.2x17 详情>>

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孔隙形貌

孔隙形貌对多孔材料性能的影响远远大于孔隙尺寸。实际上,蜂窝体和泡沫体的孔隙构型一般并不是圆柱形或球体或其他规则形状,而是一种不规则的多面体结构,故孔隙尺寸在不同方向上均会存在差异。 详情>>

孔隙 形貌


矿物晶体形貌学找矿法

矿物晶体形貌学找矿法(crystalmorphologymethod)是将能以指示矿体存在或矿化强度变化规律的矿物晶体形貌特征及其空间变化,用于指导矿产预测或找矿的一项工作。矿物晶形和矿床成因类型的关系早已被发现,20世纪70年代前苏联首先提出矿物晶体形貌找矿。中国也做了很多研究。研究较多的矿物有锡石、黄铁矿、自然金、磁铁矿等。用于矿区外围或深部找矿时,常常要在已知矿体和非工业矿体上进行对比,找出 详情>>

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三维形貌测量系统

名称简介参数名称三维形貌测量系统简介栅线投影三维形貌测量系统可用于物体表面三维形貌和变形测量。由于该系统既可配备10倍变焦远距离显微成像镜头,也可配备普通变焦镜头,使得该系统能同时满足细观及宏观的测量要求。不仅可用于微电子、生物、微机械等微细结构的形貌及变形测量,也可用于混凝土结构、岩土试样等大型构件表面形貌和变形测量。系统配有专用的相移条纹图像处理软件,使得系统测量精度明显提高,并且使用方便、操 详情>>

三维 形貌 测量 系统


表面形貌

摩擦副表面的几何形态和性质。当相关的工作表面间存在薄的润滑油膜时,工作表面靠近会使两表面的峰谷阻遏或疏导润滑油的流动,这将影响摩擦力和油膜厚度的计算结果。两表面再靠近,则两面峰顶发生接触或碰撞,由此而产生的摩擦热不仅对油有热效应,而且会影响边界膜的形成和破裂。至于接触着的摩擦副表面的磨合和磨损过程,当然更与表面的原始形貌和磨痕形貌有关。表面形貌对于研究摩擦学问题十分重要,但直到20世纪60年代人们 详情>>

表面 形貌


控轧控冷钢的显微组织形貌及分析

基本信息内容简介(目录)基本信息出版社:科学出版社;第1版(2010年11月1日)丛书名:材料加工理论与技术丛书平装:307页正文语种:简体中文开本:16ISBN:9787030301758条形码:9787030301758产品尺寸及重量:23.6x16.6x1.8cm;499gASIN:B004QDKPXE内容简介《控轧控冷钢的显微组织形貌及分析》是一项以低成本方式生产高性能钢材的先进技术。它能 详情>>

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新型表面形貌测量仪器

基本信息内容简介(目录)基本信息出版社:科学出版社;第1版(2008年2月1日)平装:208页正文语种:简体中文开本:16ISBN:9787030210425条形码:9787030210425产品尺寸及重量:23.6x16.4x1.2cm;386gASIN:B0016E73WM内容简介《新型表面形貌测量仪器》首先系统地对表面形貌测量仪器的发展进行了综述,然后从原理、结构、信号处理、软件设计等方面论 详情>>

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形貌衬度

形貌衬度(TopographicContrast)是在SEM中,由于试样表面形貌差异而形成的衬度。利用对试样表面形貌变化敏感的物理信号如二次电子、背散射电子等作为显像管的调制信号,可以得到形貌衬度像。其强度是试样表面倾角的函数。而试样表面微区形貌差别实际上就是各微区表面相对于入射束的倾角不同,因此电子束在试样上扫描时任何二点的形貌差别,表现为信号强度的差别,从而在图像中形成显示形貌的衬度。二次电子 详情>>

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